Elemental Identification by Combining Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy

  1. Schulz, F.
  2. Ritala, J.
  3. Krejčí, O.
  4. Seitsonen, A.P.
  5. Foster, A.S.
  6. Liljeroth, P.
Revista:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Año de publicación: 2018

Volumen: 12

Número: 6

Páginas: 5274-5283

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/ACSNANO.7B08997 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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