Elemental Identification by Combining Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy

  1. Schulz, F.
  2. Ritala, J.
  3. Krejčí, O.
  4. Seitsonen, A.P.
  5. Foster, A.S.
  6. Liljeroth, P.
Aldizkaria:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Argitalpen urtea: 2018

Alea: 12

Zenbakia: 6

Orrialdeak: 5274-5283

Mota: Artikulua

DOI: 10.1021/ACSNANO.7B08997 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus