Chemical imaging of interfaces by sum-frequency generation microscopy: Application to patterned self-assembled monolayers

  1. Kuhnke, K.
  2. Hoffmann, D.M.P.
  3. Wu, X.C.
  4. Bittner, A.M.
  5. Kern, K.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2003

Volumen: 83

Número: 18

Páginas: 3830-3832

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1624465 GOOGLE SCHOLAR

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