Near-field microscopy through a SiC superlens
- Taubner, T.
- Korobkin, D.
- Urzhumov, Y.
- Shvets, G.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 0036-8075, 1095-9203
Año de publicación: 2006
Volumen: 313
Número: 5793
Páginas: 1595
Tipo: Artículo
Revista:
Science