Near-field microscopy through a SiC superlens

  1. Taubner, T.
  2. Korobkin, D.
  3. Urzhumov, Y.
  4. Shvets, G.
  5. Hillenbrand, R.
Aldizkaria:
Science

ISSN: 0036-8075 1095-9203

Argitalpen urtea: 2006

Alea: 313

Zenbakia: 5793

Orrialdeak: 1595

Mota: Artikulua

DOI: 10.1126/SCIENCE.1131025 GOOGLE SCHOLAR