Nanoscale free-carrier profiling of individual semiconductor nanowires by infrared near-field nanoscopy

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  7. Hillenbrand, R.
Revista:
Nano Letters

ISSN: 1530-6984,  1530-6992

Año de publicación: 2010

Volumen: 10

Número: 4

Páginas: 1387-1392

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/NL100145D GOOGLE SCHOLAR
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