Mechanisms of formation of chemical bonding and defect formation at the a-SiO2/BaTiO3 interfaces

  1. Kimmel, A.V.
  2. Sushko, P.V.
Revista:
Journal of Physics Condensed Matter

ISSN: 1361-648X,  0953-8984

Año de publicación: 2015

Volumen: 27

Número: 47

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0953-8984/27/47/475006 GOOGLE SCHOLAR

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