Origin of threefold periodicity in high-resolution transmission electron microscopy images of thin film cubic SiC

  1. Kaiser, U.
  2. Chuvilin, A.
  3. Brown, P.D.
  4. Richter, W.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Año de publicación: 1999

Volumen: 5

Número: 6

Páginas: 420-427

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927699990487 GOOGLE SCHOLAR
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