The effect of the signal-to-noise ratio in CBED patterns on the accuracy of lattice parameter determination

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Revista:
Journal of Electron Microscopy

ISSN: 0022-0744

Año de publicación: 2004

Volumen: 53

Número: 3

Páginas: 237-244

Tipo: Artículo

DOI: 10.1093/JMICRO/53.3.237 GOOGLE SCHOLAR
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