The effect of the signal-to-noise ratio in CBED patterns on the accuracy of lattice parameter determination

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Aldizkaria:
Journal of Electron Microscopy

ISSN: 0022-0744

Argitalpen urtea: 2004

Alea: 53

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 237-244

Mota: Artikulua

DOI: 10.1093/JMICRO/53.3.237 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus