Impact of local structure on halogen ion migration in layered methylammonium copper halide memory devices
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- Giannini, C.
- Prato, M.
- Manna, L.
- Abdelhady, A.L.
ISSN: 2050-7496, 2050-7488
Año de publicación: 2020
Volumen: 8
Número: 34
Páginas: 17516-17526
Tipo: Artículo