Relationship between nano-architectured Ti1−xCux thin film and electrical resistivity for resistance temperature detectors

  1. Ferreira, A.
  2. Borges, J.
  3. Lopes, C.
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Revista:
Journal of Materials Science

ISSN: 1573-4803,  0022-2461

Año de publicación: 2017

Volumen: 52

Número: 9

Páginas: 4878-4885

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10853-016-0722-X GOOGLE SCHOLAR
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