Numerical study of the lateral resolution in electrostatic force microscopy for dielectric samples

  1. Riedel, C.
  2. Alegría, A.
  3. Schwartz, G.A.
  4. Colmenero, J.
  5. Senz, J.J.
Revista:
Nanotechnology

ISSN: 0957-4484,  1361-6528

Año de publicación: 2011

Volumen: 22

Número: 28

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0957-4484/22/28/285705 GOOGLE SCHOLAR
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