Numerical study of the lateral resolution in electrostatic force microscopy for dielectric samples

  1. Riedel, C.
  2. Alegría, A.
  3. Schwartz, G.A.
  4. Colmenero, J.
  5. Senz, J.J.
Aldizkaria:
Nanotechnology

ISSN: 0957-4484,  1361-6528

Argitalpen urtea: 2011

Alea: 22

Zenbakia: 28

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0957-4484/22/28/285705 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus