Partikula-azeleragailuei zuzendutako diagnostiko eta kontrolteknika aurreratuak

  1. I. Badillo 1
  2. J. Jugo 1
  3. J. Portilla 1
  4. J. Feuchtwanger 1
  5. C. San Vicente 1
  6. V. Etxebarria 1
  1. 1 Euskal Herriko Unibertsitatea/Universidad del País Vasco
Liburua:
I. IkergazteNazioarteko ikerketa euskaraz. Kongresuko artikulu-bilduma: 2015eko maiatzaren 13, 14 eta 15a. Durango, Euskal Herria
  1. Iñaki Alegría (ed. lit.)
  2. Ainhoa Latatu (ed. lit.)
  3. Miren Josu Ormaetxeberria (ed. lit.)

Argitaletxea: Udako Euskal Unibertsitatea, UEU = Universidad Vasca de Verano

ISBN: 978-84-8438-539-4

Argitalpen urtea: 2015

Orrialdeak: 557-563

Biltzarra: Ikergazte. Nazioarteko Ikerketa Euskaraz (1. 2015. Durango)

Mota: Biltzar ekarpena

DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor

Laburpena

Lan honek partikula-azeleragailuei zuzenduriko diagnostiko eta kontrolerako teknika aurreratuakaukezten ditu. Alde batetik, sorta-posizioaren monitorea (BPM, Beam Postion Monitor ingelesez)deritzon diagnostiko tresna baten garapena eta horrekin egindako saiakerak deslribatzen dira. Bestetik,maila baxuko RF (LLRF, Low Level-RF ingelesez) izeneko kontrol sistema digital baten garapena etahura balidatzeko laborategi-montaia aurkezten da. Honekin batera, seinale azkarrak lagintzeak etaprozesatzeak dakarren kostua arintzeko, azpilaginketa izeneko teknika berritzailea eta berarekin lanegiteko garatutako metodologia aurkezten da.

Datuen iturria: Dialnet