Partikula-azeleragailuei zuzendutako diagnostiko eta kontrolteknika aurreratuak
- I. Badillo 1
- J. Jugo 1
- J. Portilla 1
- J. Feuchtwanger 1
- C. San Vicente 1
- V. Etxebarria 1
- 1 Euskal Herriko Unibertsitatea/Universidad del País Vasco
- Iñaki Alegría (ed. lit.)
- Ainhoa Latatu (ed. lit.)
- Miren Josu Ormaetxeberria (ed. lit.)
Publisher: Udako Euskal Unibertsitatea, UEU = Universidad Vasca de Verano
ISBN: 978-84-8438-539-4
Year of publication: 2015
Pages: 557-563
Congress: Ikergazte. Nazioarteko Ikerketa Euskaraz (1. 2015. Durango)
Type: Conference paper
Abstract
Lan honek partikula-azeleragailuei zuzenduriko diagnostiko eta kontrolerako teknika aurreratuakaukezten ditu. Alde batetik, sorta-posizioaren monitorea (BPM, Beam Postion Monitor ingelesez)deritzon diagnostiko tresna baten garapena eta horrekin egindako saiakerak deslribatzen dira. Bestetik,maila baxuko RF (LLRF, Low Level-RF ingelesez) izeneko kontrol sistema digital baten garapena etahura balidatzeko laborategi-montaia aurkezten da. Honekin batera, seinale azkarrak lagintzeak etaprozesatzeak dakarren kostua arintzeko, azpilaginketa izeneko teknika berritzailea eta berarekin lanegiteko garatutako metodologia aurkezten da.