Multiple defect interpretation based on Gaussian processes for MFL technology
- Wijerathna, B.
- Vidal-Calleja, T.
- Kodagoda, S.
- Zhang, Q.
- Miro, J.V.
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819494771
Argitalpen urtea: 2013
Alea: 8694
Mota: Biltzar ekarpena
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819494771
Argitalpen urtea: 2013
Alea: 8694
Mota: Biltzar ekarpena