Elemental Identification by Combining Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy

  1. Schulz, F.
  2. Ritala, J.
  3. Krejčí, O.
  4. Seitsonen, A.P.
  5. Foster, A.S.
  6. Liljeroth, P.
Revista:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Ano de publicación: 2018

Volume: 12

Número: 6

Páxinas: 5274-5283

Tipo: Artigo

DOI: 10.1021/ACSNANO.7B08997 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus