Elemental Identification by Combining Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy

  1. Schulz, F.
  2. Ritala, J.
  3. Krejčí, O.
  4. Seitsonen, A.P.
  5. Foster, A.S.
  6. Liljeroth, P.
Revista:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X 1936-0851

Any de publicació: 2018

Volum: 12

Número: 6

Pàgines: 5274-5283

Tipus: Article

DOI: 10.1021/ACSNANO.7B08997 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor