Probing surface electronic properties of a patterned conductive STO by reactive ion etching

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Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2019

Volumen: 466

Páginas: 730-736

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2018.10.068 GOOGLE SCHOLAR