Chemical imaging of interfaces by sum-frequency generation microscopy: Application to patterned self-assembled monolayers

  1. Kuhnke, K.
  2. Hoffmann, D.M.P.
  3. Wu, X.C.
  4. Bittner, A.M.
  5. Kern, K.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Any de publicació: 2003

Volum: 83

Número: 18

Pàgines: 3830-3832

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.1624465 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus