Determination of the free carrier concentration in atomic-layer doped germanium thin films by infrared spectroscopy

  1. Calandrini, E.
  2. Ortolani, M.
  3. Nucara, A.
  4. Scappucci, G.
  5. Klesse, W.M.
  6. Simmons, M.Y.
  7. Di Gaspare, L.
  8. De Seta, M.
  9. Sabbagh, D.
  10. Capellini, G.
  11. Virgilio, M.
  12. Baldassarre, L.
Revista:
Journal of Optics (United Kingdom)

ISSN: 2040-8986 2040-8978

Año de publicación: 2014

Volumen: 16

Número: 9

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/2040-8978/16/9/094010 GOOGLE SCHOLAR