Near-field microscopy through a SiC superlens

  1. Taubner, T.
  2. Korobkin, D.
  3. Urzhumov, Y.
  4. Shvets, G.
  5. Hillenbrand, R.
Revista:
Science

ISSN: 0036-8075 1095-9203

Any de publicació: 2006

Volum: 313

Número: 5793

Pàgines: 1595

Tipus: Article

DOI: 10.1126/SCIENCE.1131025 GOOGLE SCHOLAR