Nanoscale free-carrier profiling of individual semiconductor nanowires by infrared near-field nanoscopy
- Stiegler, J.M.
- Huber, A.J.
- Diedenhofen, S.L.
- Gómez Rivas, J.
- Algra, R.E.
- Bakkers, E.P.A.M.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 1530-6984, 1530-6992
Any de publicació: 2010
Volum: 10
Número: 4
Pàgines: 1387-1392
Tipus: Article