Mechanisms of formation of chemical bonding and defect formation at the a-SiO2/BaTiO3 interfaces
- Kimmel, A.V.
- Sushko, P.V.
ISSN: 1361-648X, 0953-8984
Any de publicació: 2015
Volum: 27
Número: 47
Tipus: Article
ISSN: 1361-648X, 0953-8984
Any de publicació: 2015
Volum: 27
Número: 47
Tipus: Article