Development of effective technique for irradiating samples of thin films using the focused ion beam

  1. Kotvitckii, A.
  2. Dubitents, A.
  3. Ermakov, K.
  4. Modin, E.
  5. Pustovalov, E.
  6. Plotnikov, V.
Colección de libros:
Advanced Materials Research

ISSN: 1662-8985 1022-6680

ISBN: 9783038352549

Ano de publicación: 2014

Volume: 1025-1026

Páxinas: 765-769

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/AMR.1025-1026.765 GOOGLE SCHOLAR