Development of effective technique for irradiating samples of thin films using the focused ion beam

  1. Kotvitckii, A.
  2. Dubitents, A.
  3. Ermakov, K.
  4. Modin, E.
  5. Pustovalov, E.
  6. Plotnikov, V.
Col·lecció de llibres:
Advanced Materials Research

ISSN: 1662-8985,  1022-6680

ISBN: 9783038352549

Any de publicació: 2014

Volum: 1025-1026

Pàgines: 765-769

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/AMR.1025-1026.765 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus