Transmission electron microscopy investigation of SiC films grown on SiC substrates by solid-source molecular beam epitaxy

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Revista:
Journal of Materials Research

ISSN: 0884-2914

Año de publicación: 1999

Volumen: 14

Número: 8

Páginas: 3226-3236

Tipo: Artículo

DOI: 10.1557/JMR.1999.0436 GOOGLE SCHOLAR
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