Origin of threefold periodicity in high-resolution transmission electron microscopy images of thin film cubic SiC
- Kaiser, U.
- Chuvilin, A.
- Brown, P.D.
- Richter, W.
ISSN: 1431-9276
Ano de publicación: 1999
Volume: 5
Número: 6
Páxinas: 420-427
Tipo: Artigo