Defects in hexagonal SiC analyzed by molecular dynamics and HRTEM image simulations

  1. Biskupek, J.
  2. Kaiser, U.
  3. Chuvilin, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Año de publicación: 2003

Volumen: 9

Número: SUPPL. 3

Páginas: 204-205

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927603022001 GOOGLE SCHOLAR
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