Lattice parameter measurement by CBED: Accuracy limited by the noise

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Año de publicación: 2003

Volumen: 9

Número: SUPPL. 3

Páginas: 356-357

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927603027028 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: Scopus