Lattice parameter measurement by CBED: Accuracy limited by the noise
- Chuvilin, A.
- Kups, T.
- Kaiser, U.
ISSN: 1431-9276
Año de publicación: 2003
Volumen: 9
Número: SUPPL. 3
Páginas: 356-357
Tipo: Aportación congreso
Revista:
Microscopy and Microanalysis