The effect of the signal-to-noise ratio in CBED patterns on the accuracy of lattice parameter determination

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Zeitschrift:
Journal of Electron Microscopy

ISSN: 0022-0744

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 53

Nummer: 3

Seiten: 237-244

Art: Artikel

DOI: 10.1093/JMICRO/53.3.237 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus