The effect of the signal-to-noise ratio in CBED patterns on the accuracy of lattice parameter determination

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Revista:
Journal of Electron Microscopy

ISSN: 0022-0744

Any de publicació: 2004

Volum: 53

Número: 3

Pàgines: 237-244

Tipus: Article

DOI: 10.1093/JMICRO/53.3.237 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus