Enhanced resolution in subsurface near-field optical microscopy

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Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Año de publicación: 2012

Volumen: 20

Número: 1

Páginas: 593-600

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/OE.20.000593 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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