Enhanced resolution in subsurface near-field optical microscopy

  1. Krutokhvostov, R.
  2. Govyadinov, A.A.
  3. Stiegler, J.M.
  4. Huth, F.
  5. Chuvilin, A.
  6. Carney, P.S.
  7. Hillenbrand, R.
Aldizkaria:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Argitalpen urtea: 2012

Alea: 20

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 593-600

Mota: Artikulua

DOI: 10.1364/OE.20.000593 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus