In situ electrical characterization of palladium-based single electron transistors made by electromigration technique

  1. Arzubiaga, L.
  2. Golmar, F.
  3. Llopis, R.
  4. Casanova, F.
  5. Hueso, L.E.
Revista:
AIP Advances

ISSN: 2158-3226

Año de publicación: 2014

Volumen: 4

Número: 11

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.4902170 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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