Comprehensive approach to MuGFET metrology
- Lorusso, G.F.
- Leray, P.
- Vandeweyer, T.
- Ercken, M.
- Delvaux, C.
- Pollentier, I.
- Cheng, S.
- Collaert, N.
- Rooyackers, R.
- Degroote, B.
- Jurczak, M.
- Biesemans, S.
- Richard, O.
- Bender, H.
- Azordegan, A.
- McCormack, J.
- Shirke, S.
- Prochazka, J.
- Long, T.
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819461957
Año de publicación: 2006
Volumen: 6152 I
Tipo: Aportación congreso