Mapping VISIR Circuits for Computer-assisted Assessment

  1. Cuadros, J.
  2. Serrano, V.
  3. Lluch, F.
  4. Garcia-Zubia, J.
  5. Hernandez-Jayo, U.
Actas:
Proceedings of 2021 World Engineering Education Forum/Global Engineering Deans Council, WEEF/GEDC 2021

ISBN: 9781665424882

Año de publicación: 2021

Páginas: 524-527

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/WEEF/GEDC53299.2021.9657349 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus