Multi-Metrics Approach for Security, Privacy and Dependability in Embedded Systems
- Garitano, I.
- Fayyad, S.
- Noll, J.
ISSN: 1572-834X, 0929-6212
Año de publicación: 2015
Volumen: 81
Número: 4
Páginas: 1359-1376
Tipo: Artículo
Revista:
Wireless Personal Communications