Simple and Affordable Method for Fast Transient Measurements of SiC Devices

  1. Garrido, D.
  2. Baraia-Etxaburu, I.
  3. Arza, J.
  4. Barrenetxea, M.
Revista:
IEEE Transactions on Power Electronics

ISSN: 1941-0107,  0885-8993

Año de publicación: 2020

Volumen: 35

Número: 3

Páginas: 2933-2942

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TPEL.2019.2924358 GOOGLE SCHOLAR
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