Simple and Affordable Method for Fast Transient Measurements of SiC Devices

  1. Garrido, D.
  2. Baraia-Etxaburu, I.
  3. Arza, J.
  4. Barrenetxea, M.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Power Electronics

ISSN: 1941-0107 0885-8993

Argitalpen urtea: 2020

Alea: 35

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 2933-2942

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TPEL.2019.2924358 GOOGLE SCHOLAR