Deflectometric data segmentation for surface inspection: A fully convolutional neural network approach

  1. Maestro-Watson, D.
  2. Balzategui, J.
  3. Eciolaza, L.
  4. Arana-Arexolaleiba, N.
Revista:
Journal of Electronic Imaging

ISSN: 1560-229X,  1017-9909

Año de publicación: 2020

Volumen: 29

Número: 4

Tipo: Artículo

DOI: 10.1117/1.JEI.29.4.041007 GOOGLE SCHOLAR
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