Deflectometric data segmentation for surface inspection: A fully convolutional neural network approach

  1. Maestro-Watson, D.
  2. Balzategui, J.
  3. Eciolaza, L.
  4. Arana-Arexolaleiba, N.
Aldizkaria:
Journal of Electronic Imaging

ISSN: 1560-229X,  1017-9909

Argitalpen urtea: 2020

Alea: 29

Zenbakia: 4

Mota: Artikulua

DOI: 10.1117/1.JEI.29.4.041007 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus