Polarization-Resolved Near-Field Characterization of Nanoscale Infrared Modes in Transmission Lines Fabricated by Gallium and Helium Ion Beam Milling

  1. Sarriugarte, P.
  2. Schnell, M.
  3. Chuvilin, A.
  4. Hillenbrand, R.
Revista:
ACS Photonics

ISSN: 2330-4022

Año de publicación: 2014

Volumen: 1

Número: 7

Páginas: 604-611

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/PH500081K GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus