Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy

  1. Riedel, C.
  2. Arinero, R.
  3. Tordjeman, Ph.
  4. Ramonda, M.
  5. Ĺv̂que, G.
  6. Schwartz, G.A.
  7. De Oteyza, D.G.
  8. Alegria, A.
  9. Colmenero, J.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 106

Nummer: 2

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.3182726 GOOGLE SCHOLAR

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