Broadband nanodielectric spectroscopy by means of amplitude modulation electrostatic force microscopy (AM-EFM)

  1. Schwartz, G.A.
  2. Riedel, C.
  3. Arinero, R.
  4. Tordjeman, P.
  5. Alegría, A.
  6. Colmenero, J.
Aldizkaria:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991,  1879-2723

Argitalpen urtea: 2011

Alea: 111

Zenbakia: 8

Orrialdeak: 1366-1369

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2011.05.001 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus