Broadband nanodielectric spectroscopy by means of amplitude modulation electrostatic force microscopy (AM-EFM)

  1. Schwartz, G.A.
  2. Riedel, C.
  3. Arinero, R.
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  6. Colmenero, J.
Zeitschrift:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991,  1879-2723

Datum der Publikation: 2011

Ausgabe: 111

Nummer: 8

Seiten: 1366-1369

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2011.05.001 GOOGLE SCHOLAR
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