On the use of electrostatic force microscopy as a quantitative subsurface characterization technique: A numerical study

  1. Riedel, C.
  2. Alegra, A.
  3. Schwartz, G.A.
  4. Arinero, R.
  5. Colmenero, J.
  6. Senz, J.J.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2011

Volumen: 99

Número: 2

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.3608161 GOOGLE SCHOLAR
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