Three-dimensional tomography of single charge inside dielectric materials using electrostatic force microscopy

  1. Riedel, C.
  2. Arinero, R.
  3. Alegria, A.
  4. Colmenero, J.
  5. Saenz, J.J.
Actas:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781627482325

Ano de publicación: 2012

Volume: 1421

Páxinas: 1-6

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1557/OPL.2012.53 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus