Three-dimensional tomography of single charge inside dielectric materials using electrostatic force microscopy

  1. Riedel, C.
  2. Arinero, R.
  3. Alegria, A.
  4. Colmenero, J.
  5. Saenz, J.J.
Aktak:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781627482325

Argitalpen urtea: 2012

Alea: 1421

Orrialdeak: 1-6

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1557/OPL.2012.53 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus